第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）
布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供無與倫比的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于5Å。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。通過整合其行業(yè)領(lǐng)先產(chǎn)品，DektakXT實(shí)現(xiàn)了最高性能。操作簡易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都有更好的過程控制。整合了技術(shù)突破到第十代Dektak臺(tái)階儀能夠在微電子，半導(dǎo)體，太陽能、超高亮度發(fā)光二極管（LED）、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)表面形貌測量。
